Ausrichtung von Siliziumwafern
Welches Objektiv wird für die Ausrichtung der Siliziumscheibe vor der Messung in der Schichtdickenmessanlage gewählt?
●Installiertes Produkt
Fallstudie
Herausforderungen/Probleme | VS-THV-SWIR Auswertung |
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Um die Rückseite des Wafers zu sehen, versuchte unser Kunde, Infrarotlicht anstelle von sichtbarem Licht zu verwenden, um das Licht zur Bildgebung durch den Wafer zu leiten. |
・Durch den Einsatz von THV-SWIR wurde das Problem gelöst, da das Objektiv viermal heller ist als herkömmliche telezentrische Objektive. |
Herausforderungen/Probleme
Um die Rückseite des Wafers zu sehen, versuchte unser Kunde, Infrarotlicht anstelle von sichtbarem Licht zu verwenden, um das Licht zur Bildgebung durch den Wafer zu leiten.
Die Helligkeit reichte nicht aus, um die Inspektion mit einem herkömmlichen Objektiv zu beschleunigen.
VS-THV-SWIR Auswertung
・Durch den Einsatz von THV-SWIR wurde das Problem gelöst, da das Objektiv viermal heller ist als herkömmliche telezentrische Objektive.
Über die VS-THV-SWIR-Serie, die zur Lösung des Problems in der Fallstudie ausgewählt wurde. | |
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Sehen, was verborgen ist |
Über die VS-THV-SWIR-Serie, die zur Lösung des Problems in der Fallstudie ausgewählt wurde.
Sehen, was verborgen ist
Telezentrische Objektive für 1000nm ~ 1600nm SWIR
・SWIR optimierter koaxialer Lichteingang
・1.1″ & 1″ Unterstützung
・Optisches Mag. 1.0x/1.5x/2.0x/3.0x/4.0x, 5 Modelle
・Co-axiale Beleuchtung