矽晶圓外觀瑕疵檢測
案例研究
| 挑戰/問題 | 為什麼選擇VS-THV-SWIR |
|---|---|
・客戶要求更高的解析度和檢測精度 |
・兼容 SWIR 的高解析度鏡頭可以處理最新的高解析度傳感器並提高解析度。 |
挑戰/問題
・客戶要求更高的解析度和檢測精度
・想透過擴大成像區域來加快檢測時間
為什麼選擇VS-THV-SWIR
・兼容 SWIR 的高解析度鏡頭可以處理最新的高解析度傳感器並提高解析度。
・SWIR 的高穿透率和明亮的成像能力，可有效改善檢測時間。
| 此案例分析所選擇的VS-THV-SWIR系列規格 | |
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1000 ~ 1600nm 高穿透率的遠心鏡頭 |
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