Inspektion von Silikonwafern
Welche Linse wird gewählt, um die Genauigkeit der Prüfung auf Anomalien und Fremdkörper in strukturierten Schaltungen auf Siliziumwafern zu verbessern?
●Installiertes Produkt
Fallstudie
| Herausforderungen/Probleme | VS-THV-SWIR Auswertung |
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・Kundenwunsch nach höherer Auflösung und Prüfgenauigkeit |
・Das SWIR-kompatible hochauflösende Objektiv kann die neuesten hochauflösenden Sensoren verarbeiten und die Auflösung verbessern. |
Herausforderungen/Probleme
・Kundenwunsch nach höherer Auflösung und Prüfgenauigkeit
・Zusätzlicher Wunsch nach Erhöhung der Taktzeit durch Vergrößerung des Bildbereichs.
VS-THV-SWIR Auswertung
・Das SWIR-kompatible hochauflösende Objektiv kann die neuesten hochauflösenden Sensoren verarbeiten und die Auflösung verbessern.
・Die hohe Transmission des SWIR und die Fähigkeit, helle Bilder zu erfassen, führten zu einer Verbesserung der Taktzeit.
| Über die VS-THV-SWIR-Serie, die zur Lösung des Problems in der Fallstudie ausgewählt wurde. | |
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Sehen, was verborgen ist |
Über die VS-THV-SWIR-Serie, die zur Lösung des Problems in der Fallstudie ausgewählt wurde.
Sehen, was verborgen ist
Telezentrische Objektive für 1000nm ～ 1600nm SWIR
・SWIR optimierter koaxialer Lichteingang
・1.1″ & 1″ Unterstützung
・Optisches Mag. 1.0x/1.5x/2.0x/3.0x/4.0x, 5 Modelle
・Alle Modelle mit variabler Blende.
・Alle Modelle mit koaxialer Epi-Beleuchtung.
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Spezifikationen, Zeichnungen
