Inspección de obleas de silicio
¿Que tipo de lentes opticos son seleccionados para mejorar la precisión de la inspección en busca de anomalías y partículas extrañas en los circuitos estampados en obleas de silicio?
●Producto instalado.
Resumen de estudios de caso
| Desafío / Problemas | Evaluación de VS-THV-SWIR |
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・Petición del cliente de mejorar la resolución y precisión de la inspección. |
・El lente SWIR tiene capacidades de resolución de alta calidad que pueden mantener y hasta mejorar la resolución junto con sensores de alta resolución. |
Desafío / Problemas
・Petición del cliente de mejorar la resolución y precisión de la inspección.
・Solicitud adicional para aumentar el tiempo tak al amplificar la zona de imágenes.
Evaluación de VS-THV-SWIR
・El lente SWIR tiene capacidades de resolución de alta calidad que pueden mantener y hasta mejorar la resolución junto con sensores de alta resolución.
La alta transmisión y el aumento de brillo al capturar imágenes del lente SWIR permitio un aumento en el tiempo takt.
| Sobre la serie VS-THV-SWIR seleccionada para resolver el problema del caso de estudio. | |
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Puede ver lo que este oculto |
Sobre la serie VS-THV-SWIR seleccionada para resolver el problema del caso de estudio.
Puede ver lo que este oculto
Lentes telecentricos para 1000nm~1600nm SWIR
“・Puerto de entrada de luz coaxial optimizado para SWIR
・Soporte de 1.1” y 1”
・Aumento óptico 1.0x/1.5x/2.0x/3.0x/4.0x, 5 modelos
・Entrada de luz coaxial”
Producto relacionado, artículo relacionado
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- NIR/SWIR
Serie VS-H1-SWIR
Especificaciones, dibujos
