SWIR대응 텔레센트릭 렌즈 시리즈
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SWIR대응 텔레센트릭 렌즈 시리즈

제품 스펙

  • NEW
  • 4.5μ
  • 3.5μ
  • 2.7μ
  • 2.2μ
  • 1.7μ
  • 1/4"
  • 1/3"
  • 1/2"
  • 1/1.8"
  • 2/3"
  • 1"
  • 1.1"
  • 4/3"
  • φ21
  • φ28.6
  • φ32
  • φ35
  • φ45
  • φ62
  • φ73
  • φ83
  • φ90

SWIR(단파적외선) 파장에 대응한 텔레센트릭 렌즈

  • 특정 대상물을 투과할 수 있고, 가시광으로는 보이지 않는 대상물 내의 물질을 검출할 수 있음.
  • 특정 파장 범위 밖에서 수분에 흡수되는 성질이 있으므로 주위보다 수분을 많이 포함하는 곳을 검출할 수 있음.
  • 배율·파장에 따라 두 시리즈를 전개
  • 광학 배율 1x-4x, 1000nm-1600nm의 투과율을 높인 렌즈
  • 광학 배율 10x, 900nm -1500nm의 투과율을 높인 렌즈
1x 4x 텔레센트릭 렌즈 <br>VS-THV-SWIR 시리즈

1x 4x 텔레센트릭 렌즈
VS-THV-SWIR 시리즈

제품 스펙

  • 4.5μ
  • 3.5μ
  • 2.7μ
  • 2.2μ
  • 1.7μ
  • 1/4"
  • 1/3"
  • 1/2"
  • 1/1.8"
  • 2/3"
  • 1"
  • 1.1"
  • 4/3"
  • φ21
  • φ28.6
  • φ32
  • φ35
  • φ45
  • φ62
  • φ73
  • φ83
  • φ90

1"・1.1" 대응 텔레센트릭 렌즈

  • 광학 배율 1.0x/1.5x/2.0x/3.0x/4.0x 라인업
  • 1.0x, 1.5x, 2.0x은1"대응, 3.0x 4.0x는 1.1"대응
  • 1000~1600nm 투과율을 높인 렌즈
  • 전기종 가변 조리개 대응으로 피사계 심도 조절 가능

투과율 그래프

Y:Transmittance(%) X:Wave Length (nm)



비교영상(동일 피사체 / 동일 셔터 스피드에서 촬영)

*4 times higher transmittance in the 1000nm ~ 1600nm range                                           



VS-THV-SWIR

Model Mag. WD (mm) NA Co-axial Lighting Mount Download , Request quotes/demos
VS-THV1-110CO/S-SWIR1.0x111.10.048 Built-in C-Mount Login
VS-THV1.5-110CO/S-SWIR1.5x110.40.075 Login
VS-THV2-110CO/S-SWIR2.0x110.4 0.100 Login
VS-THV3-110CO/S-SWIR3.0x111.20.120 Login
VS-THV4-110CO/S-SWIR4.0x110.40.130 Login

10x 텔레센트릭 렌즈 VS-TM-SWIR 시리즈

10x 텔레센트릭 렌즈 VS-TM-SWIR 시리즈

제품 스펙

  • 4.5μ
  • 3.5μ
  • 2.7μ
  • 2.2μ
  • 1.7μ
  • 1/4"
  • 1/3"
  • 1/2"
  • 1/1.8"
  • 2/3"
  • 1"
  • 1.1"
  • 4/3"
  • φ21
  • φ28.6
  • φ32
  • φ35
  • φ45
  • φ62
  • φ73
  • φ83
  • φ90

2/3"대응 광학 배율 10x 텔레센트릭 렌즈

  • 현미경과 동등한 해상력
  • Long WD설계로 워크와 렌즈 간의 조명 시스템 자유도가 높다.
  • 900nm - 1500nm의 투과율이 높은 렌즈

VS-TM-SWIR

Model Mag. WD (mm) NA Co-axial Lighting Mount Download , Request quotes/demos
VS-TM10-55CO-SWIR 10x 55.3mm 0.23 Built-in C-Mount Login

어플리케이션 사례 모음

  • 실리콘 웨이퍼 조정

    실리콘 웨이퍼 조정

    막 두께 측정 장치의 과정 중 측정하기 전의 실리콘 웨이퍼 조정을 하기 위해 선정한 렌즈는?

  • 실리콘 웨이퍼 이물 검사

    실리콘 웨이퍼 이물 검사

    실리콘 웨이퍼에 패터닝 된 회로의 이상 및 이물질 검사의 정확도를 높이기 위해 선정된 렌즈?

  • IC칩내 검사

    IC칩내 검사

    IC칩의 수지를 투과하여 내부의 이물이나 기포 등을 검사하고 싶다. 과제 해결을 위해 선택한 제품은?